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| Parameter | Typische Reichweite | Auswirkungen auf den Prozess |
|---|---|---|
| Drahtdurchmesser | 0,1 0,3 mm | Kürzere Lebensdauer des Drahtes = geringerer Schnittstellenverlust, während längerer Durchmesser = höhere Lebensdauer des Drahtes |
| Diamant-Grießgröße | 10 – 30 µm | Langsameres Schneiden = feineres Körnchen, höhere Oberflächenbeschaffenheit |
| Diamantkonzentration | 15-25% | Eine höhere Konzentration führt zu einem schnelleren Schneiden und höheren Kosten |
| Bond-typ | Galvanisiert / Harz | Galvanisiert für aggressives Schneiden, Harz für ein feines Finish |
| Parameter | Empfohlene Reichweite | Primäre Auswirkung | Abwägung |
|---|---|---|---|
| Drahtgeschwindigkeit | 10-25 m/s | Schnittgeschwindigkeit, Oberflächenqualität | Höhere Geschwindigkeit → mehr Wärme |
| Futterrate | 0,1-0,5 mm/min | Zykluszeit, SSD-Tiefe | Schnellere Zuführung → mehr Schaden |
| Drahtspannung | 20-60 N | Schnittgeradheit, TTV | Höhere Spannung → Drahtverschleiß |
| Kühlmittelfluss | 6-10 l/min | Temperaturregelung | Mehr Durchfluss → höhere Kosten |
| Kühlmitteltemp | 18-22°C | Thermische Stabilität | Benötigt Kühlanlage |
Optimieren Sie Ihre Diamantdraht-Schneidparameter für beste Qualität und berechnen Sie detaillierte Kosten-pro-Wafer-Aufschlüsselung für die Siliziumkarbid-Wafer-Produktion
Reale Fallstudien, die Präzision, Ertrag und Kosteneffizienz belegen.
Der deutsche Automobil Tier-1-Zulieferer ist einer der größten Hersteller von SiC-basierten Leistungsmodulen für Elektrofahrzeugwechselrichter, dieses Unternehmen, das jährlich über 500.000 SiC-MOSFET-Module produziert, steht aufgrund der übermäßigen Rohstoffverschwendung aus ihren Wafer-Slicing-Betrieben unter finanzieller Belastung Dieses Unternehmen betreibt 3 Produktionslinien für 6-Zoll-4 H-SiC-Waferverarbeitung für 1200 V - und 1700 V-Stromgeräte.
Vor Beginn dieses Projekts verursachte das Mehrdraht-Sägesystem des Kunden inakzeptable Verluste:
Nach der Analyse der Schneidanforderungen des Kunden haben wir eine DWS-6000 Diamantdraht-Sägeschneidemaschine Mit benutzerdefinierten Funktionen.
| Metrisch | Vorher | Nach |
|---|---|---|
| Kerf-verlust | 220 auf dem Gebiet | 143 (↓35%) |
| Wafer pro Ingot (25 mm) | 38 Wafer | 52 Wafer (↑37%) |
| Materialverwendung | 52% | 71% (↑19 Punkte) |
| Unterirdischer Schaden | 45-6 m | 15-2m (↓58%) |
| Kantenabspanungsrate | 8% | 1.2% (↓85%) |
Der Kunde ist einer der Top-3-Hersteller von Solarwechselrichtern in China, mit einer jährlichen Produktionskapazität von über 50 GW Um ihre vertikale Integration zu stärken, richten sie eine eigene SiC-Wafer-Fertigungsanlage ein. Dies ist eine Strategie, die sich auf die Sicherheit der Lieferkette für die SiC-MOSFETs konzentriert, die in hocheffizienten String-Wechselrichtern eingesetzt werden. Die Anlage arbeitet an 8-Zoll-4 H-SiC-Wafern für 650 V- und 1200 V-Geräte für Solarsysteme im Versorgungsmaßstab.
Zu den Schwierigkeiten, mit denen der Kunde konfrontiert war, gehörte die Einrichtung eines SiC-Waferschneidevorgangs auf der grünen Wiese mit folgenden Anforderungen:
Unsere Empfehlung ist die EDW-8200 Endloses Diamantdraht-Schleifenschneidesystem. Es entspricht den Spezifikationen des Benutzers für das Präzisionsschneiden von SiC-Wafern.
| Metrisch | Ergebnis erreicht | Ziel / Kontext |
|---|---|---|
| Kerf-verlust | 0,35-0,40 mm | gegenüber 0,45 mm Ziel |
| Mindestwaferdicke | 300 erreicht | Ziel von über 35 m erreicht |
| Oberflächenrauheit (Ra) | 0,2m | Übertraf das Ziel von 0.3m |
| TTV | < 5 | Über 200 mm Durchmesser |
| Ertragsrate (Erster Pass) | 96.8% | - |
Japanische Halbleitergießerei in den GaN-on-SiC RF-Geräten für 5 G-Basisstationen Ihre Produktlinie umfasst HPAs, LNAs, und integrierte MMICs für Sub-6 GHz - und mmWave-Bänder Die Leistung der RF-Geräte ist kritisch, daher anspruchsvoll hochwertige SiC-Substrate mit minimalen kristallographischen Defekten.
Zu den Hauptanliegen des Kunden gehörten die Schäden unter der Oberfläche, die sich auf die Qualität des GaN-Epitaxiewachstums auswirkten:
Dafür haben wir die genutzt DWS-4100 P Präzisions-Diamantdraht-Säge Vollständig konfiguriert mit speziellen Funktionen zur SSD-Reduktion.
| Metrisch | Vorher | Nach |
|---|---|---|
| Unterirdische Schadenstiefe | 40-5m | 8-12 m (↓78%) |
| Wafer Bow (4 Zoll) | >30 | <8 (↓73%) |
| Genauigkeit der Kristallorientierung | ±0,15° | ±0,05° (↑3-fache Genauigkeit) |
| Ausfallrate von HF-Geräten | 4.2% | 1.1% (↓74%) |
| GaN-Epi-Defektdichte | 5×105 cm -² | 8×104 cm-² (↓84%) |