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Comment les scies multi-fils coupent les tranches de SiC du lingot au substrat fini
📐 Spécifications rapides Coupe de scie multifil SiC
| Matériau de la tranche | 4H-SiC /6H-SiC (Mohs 9.2Si9.5) |
| Type de fil | Fil diamant galvanisé (0,10,0,22 mm de diamètre) |
| Largeur Kerf | 90200µm (par diamètre de fil) |
| Vitesse typique du fil | 12 m/s |
| Tension du fil | 404 N |
| Rugosité de surface (Ra) | ~1,8µm |
| Normes applicables | SEMI M1 (spécifications de bord) |
Le carbure de silicium demeure à Mohs 9.2-9.5, le plus dur de tous les matériaux semi-conducteurs commerciaux en production aujourd'hui Ce niveau de dureté fait du tranchage de la plaquette comme l'une des étapes les plus difficiles de toute la chaîne d'approvisionnement en SiC ; une étape où un équipement ou des paramètres incorrects peuvent effacer les jours de croissance cristalline en quelques minutes. Machines à scier multifilaires sont la solution à ce problème, en faisant passer plus de 100 fils de diamant individuels à travers un seul lingot simultanément, produisant des centaines de plaquettes par passage Nous analysons la physique, les paramètres de processus et les considérations d'équipement qui peuvent faire basculer un lot de plaquettes sur les spécifications acceptables, ou les transformer en déchets coûteux.
Pourquoi la demande de plaquettes SiC accélère le développement des scies multi-fils
![Scie multifil à galettes SiC : processus, paramètres et sélection [Guide] 1 Pourquoi la demande de plaquettes SiC accélère le développement des scies multi-fils](https://wiresawcutter.com/wp-content/uploads/2026/05/Why-SiC-Wafer-Demand-Is-Accelerating-Multi-Wire-Saw-Development.png)
Bien que les fabricants traditionnels de circuits intégrés en silicium aient pris leur temps pour passer au SiC, le segment des matériaux semi-conducteurs a connu une croissance extrêmement rapide ces dernières années. La principale raison ? L'électronique de puissance de voiture meilleure pour l'électricité est la motivation : les onduleurs SiC et les chargeurs solaires réduisent les pertes de commutation de moitié (ou plus) par rapport au silicium classique IGBT économisant de l'énergie et e×ending EV. Plage de conduite 2025, la majorité des nouvelles plates-formes EV incorporaient déjà des onduleurs Si et à la fin de la décennie, ce chiffre passera probablement par le toit.
📐 SiC Croissance du marché Statistiques clés
- Marché mondial du SiC : $1,69 milliards (2025) $6,4 milliards (2032)
- Taux de croissance annuel composé : 21.3% TCAC
- adoption de l'onduleur EV SiC : 35% de nouveaux véhicules électriques
- Transition de taille de la plaquette de l'industrie : 150 mm (6 pouces) 200 mm (8 pouces)
Ce niveau de croissance ambitieuse met un point de pincement raisonnable au stade de la plaquette Le processus de croissance de la boule de transport physique de vapeur (PVT) qui produit du SiC prend probablement plusieurs jours par boule, ce qui donne alors un nombre limité de substrats. Lorsque chaque seconde de votre ROI de matière première est précieuse, des efficacités de tranchage supplémentaires de précision de la plaquette vont directement à la marge du produit final.
La tendance de l'industrie, passant des tranches SiC de 6 pouces (150 mm) aux tranches SiC de 8 pouces (200 mm), impose de plus en plus de demande pour des substrats plats ultra-fins systèmes de scies multifils de précision 10 travées de fil plus longues, un contrôle de tension plus précis et une enveloppe coupée plus large. L'équipement qui manipulait facilement des substrats de 4 pouces il y a 10 ans ne peut pas maintenir la planéité et l'épaisseur nécessaires pour des diamètres de 200 mm.
Pour en savoir plus sur les propriétés et les applications du carbure de silicium, voir Aperçu de la technologie du carbure de silicium (PMC).Pour des recherches supplémentaires de la California Energy Commission sur l'avenir des techniques de fabrication des plaquettes SiC, consultez Alternatives au laser au sablage dans la fabrication de plaquettes de carbure de silicium.
Comment une scie multi-fils coupe les principes fondamentaux du processus SiC
![Scie multifilaire à plaquettes SiC : processus, paramètres et sélection [Guide] 2 Comment une scie multifil coupe les principes fondamentaux du processus SiC](https://wiresawcutter.com/wp-content/uploads/2026/05/How-a-Multi-Wire-Saw-Cuts-SiC-Process-Fundamentals.png)
Suivant une séquence spécifique, le processus de découpe de scies multifilaires SiC est le suivant. La connaissance de base de chaque étape explique pourquoi le contrôle de chaque paramètre pendant la découpe peut être si critique.
Étape 1 : Montage de l'Ingot. Chaque lingot de SiC est collé à une poutre en verre ou en carbone à l'aide d'un adhésif époxy L'alignement à ce stade affecte directement l'arc et la chaîne de la plaquette dans le produit fini La poutre se connecte au mécanisme d'alimentation de la machine, qui contrôle le taux de descente vers le bas pendant la coupe.
Étape 2 : Préparation de la bande. Entre 120 et 150 fils diamantés galvanisés parallèles sont enfilés à travers des rouleaux de guidage de précision, créant une bande plane de fil d“”.” Les rainures des rouleaux de guidage définissent le pas du fil et le pas détermine l'épaisseur de la tranche plus la tranche. Chaque fil a généralement un diamètre nominal de 0,22 mm avec des grains de diamant de 25 µm liés à une âme en acier.
Étape 3 : Réglage des paramètres et activation du liquide de refroidissement. L'opérateur règle la vitesse (12 m/s de fil), la tension (4045 N) du fil et le débit d'alimentation (~1 mm/min pour SiC).Les buses de liquide de refroidissement sont positionnées pour diriger le fluide de coupe dans la zone d'entrée de la saignée équipement de coupe de fil diamant pour SiC active le flux de liquide de refroidissement avant le début du contact avec le fil.
Étape 4 : Descente d'alimentation contrôlée et tranchage simultané. Lors de la coupe, le lingot descend dans la nappe de fil en mouvement Tous les fils coupés simultanément, tranchant le lingot en plaquettes parallèles Les enveloppes coupées peuvent atteindre 250.250.100 mm sur les systèmes avancés A ~1 mm/min de débit d'alimentation, un lingot de SiC de 25 mm nécessite environ 25 minutes de temps de coupe active.
Étape 5 : Séparation et nettoyage du wafer. Une fois la coupe terminée, les plaquettes restent fixées au faisceau par une fine couche d'époxy. Ils sont détachés dans un bain de solvant chauffé, puis nettoyés par ultrasons pour éliminer les débris et les résidus de liquide de refroidissement.
📐 Note d'ingénierie : Le pas du guide-fil détermine l'épaisseur de la tranche + la tranche Pour une tranche cible de 350 µm avec une tranche de 200 µm, le pas requis est de 550 µm. L'uniformité de tension sur tous les fils doit rester à ±2 N pour éviter que la variation totale d'épaisseur (TTV) ne dépasse les limites SEMI M1. Sur un système à 150 fils, cela signifie que le système de contrôle de tension gère simultanément 150 canaux de charge indépendants.
Pour le sciage de fil diamant à abrasion fixe de SiC, les données expérimentales sur la mécanique de coupe et la formation de surface de la recherche de l'Université du Michigan utilisant du fil diamant sont détaillées dans leur article sur tranchage de scie à fil diamantée abrasive fixe.
Fil de diamant vs fil de boue pour comparaison basée sur les données SiC Cutting
Par rapport au lisier, l'industrie s'est orientée vers le sciage de fil diamant pour les plaquettes de SiC, mais la comparaison n'est pas aussi biaisée que beaucoup le pensent Les deux technologies ont leurs propres compromis respectifs, pertinents à différentes étapes de la chaîne d'approvisionnement.
| Paramètre | Fil de diamant | Fil de boue |
|---|---|---|
| Vitesse de coupe | 211 | Référence (1×) |
| Largeur Kerf | 150260µm | <200µm |
| Diamètre du fil | 0,100,22 mm | 0,100,16 mm (noyau en acier) |
| Rugosité de surface (Ra) | ~1,8µm | ~0.81,2µm (finisseur) |
| Dommages souterrains | 153 µm couche de dommage (fracture fragile) | 51 µm de dommage couche (abrasion ductile) |
| Liquide de refroidissement | Fluide de coupe à base d'eau | Bouillie abrasive (polyéthylène glycol + abrasif SiC) |
| Coût du fil | Plus élevé par mètre de fil | Coût de fil inférieur + coût de boue élevé |
| Impact environnemental | Nettoyeur (pas de flux de déchets de lisier) | Exigences importantes en matière d'élimination des déchets |
Et voici le choc pour la plupart des ingénieurs : le fil diamant n'est pas toujours le meilleur choix pour SiC. L'avantage de la vitesse de débit est réel, esprit 2 3 x manipulation plus rapide 15 fois plus de plaquettes dans la même quantité de temps de sciage le silicium mais il a un prix : la couche de dommage de subsurface de comparaison épaisse (15-30 m vs. 5-15 m dans la boue) doit être ensuite retiré par les processus de rodage et de polissage, ajoutant des dépenses supplémentaires et une perte de matière à la plaquette finie Par rapport aux méthodes de coupe traditionnelles à base de boue, le processus de coupe de fil diamant échange une qualité de surface pour la pression de passage. SiC 5 la dureté de la taille abrite favorise en outre les charges de la couche de la surface de la surface de la surface de la surface de la surface de la surface de la surface de la scie.
✔ Avantages du fil de diamant
- 2.2.1 vitesse de coupe plus rapide que le lisier
- Aucune élimination des déchets de lisier requise
- Kerf plus propre pour un post-traitement plus facile
- Mieux adapté à la production en grand volume de plaquettes de saphir et de substrats SiC
️️ Limitations des fils de diamant sur SiC
- Une saignée plus large (150 wafer 60 µm) réduit le rendement : les marques de scie nécessitent un rodage
- Les dommages souterrains plus profonds nécessitent davantage de polissage
- Usure plus rapide du revêtement diamant sur SiC par rapport au silicium
- Une rugosité plus élevée (Ra ~1,8 µm) nécessite un rodage supplémentaire
En fin de compte : comme d'habitude pour le SiC, la plupart des usines ont désormais réduit l'avantage de débit prévu avec des étapes de polissage ultérieures budgétisées dans le processus en aval. Pour une comparaison de l'efficacité de fabrication et de la rentabilité du sciage de fil en suspension de diamant et d'alμmina, voir Sciage au fil de diamant : alternative durable (ScienceDirect). UN revue plus récente d'un échantillon plus large de la littérature sur le sciage de fils diamantés SiC sert de meilleures informations sur les mécanismes de coupe et de dommages souterrains.
Paramètres de processus critiques qui contrôlent la qualité de la plaquette SiC
![Scie multifilaire à plaquettes SiC : processus, paramètres et sélection [Guide] 3 Paramètres de processus critiques qui contrôlent la qualité de la plaquette SiC](https://wiresawcutter.com/wp-content/uploads/2026/05/Critical-Process-Parameters-That-Control-SiC-Wafer-Quality.png)
Pour la coupe SiC à scie multifilaire, les trois principaux paramètres à contrôler sont la vitesse du fil, la vitesse d'avance et la tension du fil. Ils s'influencent mutuellement, vous devez tous les régler pour obtenir une solution optimale pour chaque qualité SiC et taille de lingot : l'objectif des ingénieurs de processus qui connaissent leur chemin autour de l'équipement et du matériau.
Vitesse du fil : 125 m/s. Une vitesse de fil plus élevée augmente le taux d'élimination des matériaux et améliore le débit mais sur SiC, elle augmente également la profondeur des dommages souterrains Les grains de diamant engagent la surface du cristal à une énergie plus élevée, déplaçant le mode d'élimination du grattage ductile vers la rupture fragile. La plupart des opérations SiC se déposent dans la plage de 1520 m/s comme compromis entre productivité et qualité de surface.
Débit d'alimentation : ~1 mm/min pour SiC. Ceci est considérablement plus lent que le wafering de silicium (qui peut fonctionner à 2 mm/min) car la dureté du SiC génère des forces de coupe beaucoup plus élevées par unité de matériau retiré Le taux d'alimentation de poussée trop élevé ne fait que dégrader la qualité de surface ; il risque une rupture catastrophique du fil, en particulier au niveau de la zone d'entrée du lingot où le fil entre d'abord en contact avec la surface incurvée.
Tension du fil : 4004 N. La tension maintient le fil droit et détermine combien le fil dévie sous la charge de coupe Trop de tension et le fil s'enclenche Trop peu et le fil erre, créant un arc de plaquette et une épaisseur inégale. Les systèmes de tension contrôlés par PLC avec retour de cellule de charge sur chaque fil sont de série solutions de scies à fil pour matériaux semi-conducteurs.
Débit de liquide de refroidissement est le quatrième paramètre souvent négligé Le fluide de coupe doit atteindre le point d'entrée de la saignée à un débit suffisant pour éliminer à la fois la chaleur et les particules de débris de SiC. Un liquide de refroidissement insuffisant conduit à une accumulation thermique qui provoque une imprécision dimensionnelle par expansion, et une accumulation de débris qui accélère l'usure du fil La surveillance de la température de sciage est de plus en plus standard sur les machines de qualité production.
Conseil Pro Exécutez toujours des débits d'alimentation conservateurs (donc ralentissez) au début de la coupe. SiC ne produit pas d'énergie dans le silicium et la saignée n'est pas bonne lors de la coupe de matériaux durs tels que le C. L'utilisation d'une vitesse de fil faible et optimale empêche la rupture du fil et produit des forces de coupe et des tendances de force plus stables pendant le fonctionnement.
Conseil d'ingénierie : pour les substrats 4 H - et 6 H-SiC hors axe, la direction de coupe minimise l'écaillage des bords Lors du lancement de la coupe sur un nouveau lingot de SiC, le débit d'alimentation pour les premiers 5 mm de la zone d'entrée doit être compris entre 30 et 501TP3 T du taux d'entrée typique en régime permanent, afin d'éviter les efforts excédentaires qui peuvent provoquer la rupture du fil en raison de l'effet accélérateur et décélérant de la transition entre la portée libre et les zones de coupe chargées.
La recherche sur les effets de l'usure des fils sur la force de sciage du SiC et la qualité de la surface est discutée dans ce document Article du PMC décrivant l'expérience liée à l'usure des scies à fil.
Considérations clés pour la qualité du sciage sur fil SiC
Le SiC de wafering introduit des types de défauts spécifiques qui doivent être vérifiés pendant le processus et prend des mesures pour les prévenir pendant le processus. Une carte illustrative des modes de défaut aux causes est ci-dessous.
| Défaut | Cause Primaire | Prévention |
|---|---|---|
| Casse-fil | Tension excessive ou débit d'alimentation d'entrée trop élevé | Réduire l'alimentation d'entrée à 30 01 TP3 T de régime permanent ; vérifier l'alignement de la buse de liquide de refroidissement |
| Rugosité de surface élevée (Ra >2,5 µm) | Revêtement de diamant usé ou débit d'alimentation excessif | Surveiller l'usure des fils ; remplacer le fil à intervalles spécifiés par le fabricant |
| Microfissuration souterraine | Mode de fracture fragile à partir de paramètres agressifs | Réduire la vitesse du fil ; augmenter la concentration du liquide de refroidissement |
| TVT >10 µm | Tension inégale du fil sur la bande | Système de contrôle de tension de calibrate ; contrôle des roulements de guide-fil |
| Arc de plaquette/chaîne | Contrainte résiduelle asymétrique | Assurer une distribution symétrique du liquide de refroidissement ; vérifier l’alignement des liaisons lingot-faisceau |
Toute scie à fil doit être entretenue et actionnée correctement pour minimiser les modes de défaillance évitables par rapport à 70%. Les activités de maintenance quotidiennes recommandées incluent la vérification du réglage de tension, la garantie que le débit du liquide de refroidissement n'est pas affecté et, lors de la production, le roulement du rouleau de guidage de contrôle SiC et l'usure de la rainure de guidage après tous les 10 à 15 passages. Au cours du parcours de sciage SiC, portez une attention particulière à l'usure de la rainure de guidage du fil ; l'usure accrue est associée au soufflage abrasif SiC.
Un seul fait quantitatif qui est instructif : l'efficacité d'utilisation des matériaux après toute la chaîne de fabrication des plaquettes n'est que d'environ 501TP3 T. Cela signifie que l'autre 501TP3 T est jeté dans le kerf, l'élimination des dommages souterrains et la bordure Toute amélioration dans ces domaines a un impact immédiat sur les coûts des plaquettes, d'où la demande croissante de machines à scier multifilaires de haute précision avec le meilleur contrôle de kerf de sa catégorie.
Perte de kerf et rendement matériel Obtenir plus de gaufrettes par
![Scie multifil à galettes SiC : processus, paramètres et sélection [Guide] 4 Perte de kerf et rendement matériel Obtenir plus de gaufrettes par lingot](https://wiresawcutter.com/wp-content/uploads/2026/05/Kerf-Loss-and-Material-Yield-Getting-More-Wafers-per-Ingot.webp)
Chaque micron de kerf perdu est un quart du lot de matériau allant à la poussière Dans les plaquettes de silicium, les largeurs de kerf typiques sont de 90 120 m en utilisant des fils minces modernes Le matériau monocristallin SiC est plus dur (l'abrasif est une céramique elle-même) nécessitant un fil de kerf plus tolérant et plus épais. La largeur de kerf typique est de 150 200 µm par coupe, et la production de waf minces à partir de ce matériau dur et cassant exige une coupe précise à chaque étape.
En regardant les tendances de l'industrie : la tendance du diamètre de fil inférieur à (NT).Qu'est-ce que cela signifie en économies d'argent réel ?Passer du fil de 0,12 mm au fil de 0,10 mm permet traditionnellement à l'industrie d'économiser environ 60 m de kerf par tranche Parce que vous coupez plus de 150 plaquettes d'un seul lingot de 25 mm, cela s'additionne vraiment en termes de gains de rendement Les systèmes modernes avec plusieurs fils peuvent obtenir des diamètres de kerf aussi bas que 98 m en utilisant 120 segments de fil en parallèle Un débit système de 1 200 plaquettes par heure a été démontré.
📐 Kerf Tendance de réduction : sciage à fil SiC
- Diamètre standard du fil : 0,22 mm, tendance à 0,10 mm
- Largeur de kerf : 200 m 98 m avec des outils de haute qualité
- Gain de rendement de la réduction du kerf : ~221TP3 T plus de plaquettes par lingot de 25 mm
- Référence de débit : 1 200 plaquettes/heure sur les systèmes modernes
Calcul du rendement pour tout lingot solide à plaquettes :
utilisé par NREL montrant les économies de kerf dans la fabrication de tranches SiC
Un lingot de SiC de 25 mm avec une épaisseur cible de (GA) 350 m donne environ 45 tranches
réduction de la largeur de la saignée de 200 m à 100 m
Les 10 plaquettes supplémentaires remboursent le coût d'un seul couteau de 0,10 mm en 25 à 50 heures par rapport au couteau industriel actuel.
En d'autres termes, si les largeurs typiques de saignée pour le carbure de silicium de 6 et 8 pouces étaient poussées de 200 m jusqu'à 100 m, la valeur de ce gain serait d'environ 10 wafers supplémentaires par forme et par lingot, ce qui se traduirait par une amélioration du rendement de près de 221TP3 T par rapport à la profondeur de saignée seule.
Fil de 0,10 mm avec pas de 0,12 mm
Fil de 0,125 mm avec pas de 0,25 mm.
Comment sélectionner la bonne scie multifil pour la production de SiC
![Scie multifil à galettes SiC : processus, paramètres et sélection [Guide] 5 Comment sélectionner la bonne scie multifil pour la production de SiC](https://wiresawcutter.com/wp-content/uploads/2026/05/How-to-Select-the-Right-Multi-Wire-Saw-for-SiC-Production.png)
Fil de 0,133 mm avec pas de 0,35 mm.
Liste de contrôle de sélection de scies multi-fils SiC
- Fil de 0,150 mm avec pas de 0,40 mm, c'est ce que vous voyez dans les plaquettes de Si.
- Fil de 0,150 mm avec pas de 0,80 mm.
- NREL a publié des recherches sur les structures de coûts de fabrication des plaquettes SiC, y compris l'économie de la perte de kerf. Voir leur Recherche sur la fabrication de plaquettes SiC pour des données supplémentaires sur l'optimisation du rendement des matériaux.
- Votre fournisseur d'équipement devrait être en mesure de vérifier la compatibilité de votre machine avec les applications SiC Toutes les scies multi-fils ne sont pas conçues pour être utilisées avec les paramètres d'application abrasifs et abrasifs nécessaires au SiC. Tous les fabricants d'équipement ne sont pas disposés à apporter les modifications nécessaires à une utilisation abrasive (lavage supplémentaire, serrage spécial, contrôle de tension des cellules de charge, dépoussiérage spécial, extraction et distribution de différentes manières, etc.).D'autres fabricants d'équipements sont prêts à gérer les différences dans les machines abrasives.
- Enveloppe coupée : répond à vos exigences normales de diamètre de lingot 150 minimμm pour les plaquettes de type 6 pouces, 200 minimμm pour les plaquettes de type 8 pouces Pour les plaquettes de 12 et 18 pouces, les broyeurs peuvent mesurer jusqu'à 1 500 mm, ce qui peut impliquer une planification de machines personnalisée.
- Nµmbre de fils et capacité de hauteur : recouvre les options d'épaisseur de la tranche et définit les tranches maximμm par plage de rendement.
- Capacité de tension : Consultez votre fournisseur d'équipement ou consultez un client compétent De nombreux fournisseurs d'équipement disposent désormais d'un contrôle de tension de cellule de charge PLC pour les applications abrasives.
- Vitesse du fil : 12 20 m/sec limite la productivité sur les matériaux durs comme le SiC et le saphir.
Facteurs clés à prendre en compte : Pour la production spécifique au SiC, la précision du contrôle de tension et la capacité du système de liquide de refroidissement sont les deux caractéristiques qui séparent le plus directement les machines capables de manipuler le SiC de celles qui ne le peuvent pas Une machine conçue pour le silicium peut ne pas avoir la capacité de force et la gestion thermique requises par le SiC. Demandez toujours des données d'essai de coupe spécifiques au SiC au fabricant avant de s'engager.
Capacité du liquide de refroidissement : 1 10 GPM doivent garder une longueur d'avance sur la quantité de chaleur générée et éliminer les débris créés sur SiC pendant le tranchage.
Foire aux questions
![Scie multifil à galettes SiC : processus, paramètres et sélection [Guide] 6 Comment les scies multi-fils coupent les tranches de SiC du lingot au substrat fini](https://wiresawcutter.com/wp-content/uploads/2026/05/How-Multi-Wire-Saws-Cut-SiC-Wafers-From-Ingot-to-Finished-Substrate.webp)
Quels matériaux une scie multi-fils peut-elle couper en plus du carbure de silicium
Voir la réponse
Détection de rupture de fil : Obligatoire sur les courses sans surveillance de l'opérateur. Standard sur les machines de haute qualité
Zegbrk_0017.
Compatibilité des matériaux : des tests de laboratoire de confirmation ont été effectués sur des aimants en SiC, saphir, quartz, céramique et nano-cristalline sur n'importe quel équipement du fournisseur.
Zegbrk_0018.
Capacité d'automatisation : Devrait inclure un système de traçabilité (MES) compatible avec les besoins de l'utilisateur et le chargement automatique (auto-bucket, auto-amorçage) si possible.
Zegbrk_0019.
Hunan Donghe Machinery est spécialisée dans la production de scies automatiques en fil de diamant pour le SiC de qualité epit@si-coa@l, le saphir de qualité bijou, le quartz, la céramique et les solides néodymiμm nord-américains. Leur contrôle de tension PLC, leur détection de rupture de fil et leurs fonctionnalités de superposition de coupe sont disponibles pour la personnalisation de l'équipement.
Zegbrk_0020.
Les scies multi fils coupent du saphir (montre les substrats LED), du quartz (utilisé pour l'optique), du nitrure de galliμm, du silicium, de la céramique, des aimants néodymiμm. Ils peuvent faire varier la vitesse et la tension par matériau.
Comment une scie multi-fils maintient-elle une épaisseur de tranche constante ?
Voir la réponse
L'uniformité de l'épaisseur est dictée par ce qui suit : précision du guide-fil (/précision du pas 50 m), tension du fil contrôlée par ordinateur avec retour de cellule de charge sur toute la longueur du fil et contrôle stable du débit d'alimentation Les systèmes modernes atteignent une variation d'épaisseur totale (TTV) inférieure à 10 m sur l'ensemble de la plaquette.
Quelle est la durée de vie du fil de coupe diamant, et comment est-il remplacé ?
Voir la réponse
La durée de vie d'un fil de diamant dépend de la dureté du matériau et des paramètres de coupe. Une durée de vie plus longue est attendue dans le sciage au diamant en bande de silicium par rapport au SiC en raison de la dureté du matériau abrasif en carbure de silicium. Le remplacement du fil nécessite d'enfiler le nouveau fil à travers tous les rouleaux de guidage - sur une scie à fil de 150, cela prend environ 2 à 4 heures d'arrêt. Les systèmes de suivi d'utilisation surveillent l'augmentation de la force de coupe pour fournir une indication active du moment où le fil doit être remplacé.
Une scie multifil peut-elle couper du SiC monocristallin et polycristallin ?
Voir la réponse
Oui. Le 4 H-SiC monocristallin et le 6 H-SiC sont utilisés comme types de substrat utilisés pour la plupart des dispositifs électriques. L'orientation du cristal peut avoir une influence sur le processus de sciage car les directions préférées le long de la coupe du cristal parent provoqueront la formation de copeaux plus définie et moins de dommages souterrains par rapport à la coupe effectuée perpendiculairement au consensus du plan cristallographique. Le SiC polycristallin est utilisé pour ses applications structurelles et d'usure et ne sera pas aussi sensible à l'orientation mais est tout aussi dur du matériau carbure de silicium.
Quelle est la taille maximale du lingot qu’une scie multifilaire peut gérer ?
Voir la réponse
Le principe général est que les scies multi fils actuelles sont conçues pour les lingots de SiC de 6 pouces (150 mm) mais le mouvement est vers les machines capables de 8 pouces (200 mm) L'enveloppe coupée typique (par exemple, les systèmes avancés ont 250250100 mm environ) et la nµmbre de plaquettes produites par lingot dépend de la longueur.
Comment la température de sciage affecte-t-elle la qualité des plaquettes de SiC
Voir la réponse
Des températures de sciage élevées nécessitent que le fil et la pièce subissent une dilatation thermique, ce qui entraîne des imprécisions dimensionnelles en plus d'ajouter une contrainte résiduelle. Le liquide de refroidissement (généralement de l'eau déminéralisée avec divers additifs) doit être délivré au point d'entrée de la saignée à un rythme suffisamment élevé pour assurer le refroidissement et l'élimination de la chaleur de coupe et des particules dans la puce. Les températures élevées contribuent principalement à l'écaillage des bords des tranches de SiC. Les augmentations de température spécifiques observées dans les zones d'entrée et de sortie.
Êtes-vous sur le marché pour un scie multi-fils capable de scier du SiC et du saphir? Donghe construit des équipements de coupe de fil diamant de précision basés sur la recherche et le développement de plus de 10 ans, 35 demandes de brevet et la certification ISO 9001 :2015.
À propos de cette analyse
Cet article a été mis en place par les ingénieurs de Shanghai Donghe Science & Technology fabricants d'équipements de scies à fil diamantés spécialisés dans la céramique et les matériaux durs et cassants Les paramètres d'alimentation, les données de perte de saignée et les stratégies de prévention des défauts discutés dans cet article proviennent de la littérature académique publiée, des spécifications SEMI et des résultats de terrain dérivés de combinaisons d'usinage réussies de substrats de SiC, saphir, silicium et quartz totalisant plus de 10 000 événements de sciage Lorsque des détails spécifiques tels que le modèle de machine et la qualité de la tranche varient, de tels chiffres sont notés au lieu de fournir des points de données définitifs uniques.
Références et sources
- Aperçu technologique du SiC (NIH)
- Fabrication de plaquettes de SiC par laser California Energy Commission
- Sciage de tranches SiC par fil diamant d'abrasifs fixes Université du Michigan
- Alternative de fabrication durable dans le sciage de fil diamanté ScienceDirect
- Procédé de sciage de fil diamanté en matériau dur et cassant ScienceDirect
- Influence de l'usure de la scie à fil sur la force de coupe et la qualité de la surface PMC
- Développement de techniques avancées de fabrication de plaquettes SiC (NREL)
- Analyse des coûts des méthodes de production d'électronique de puissance SiC : NREL





