Neem contact op met DONGHE Company
| Parameter | Typisch bereik | Impact op proces |
|---|---|---|
| Draad Diameter | 0,1 - 0,3 mm | Kortere draadlevensduur = minder kerfverlies, terwijl langere diameter = hogere draadlevensduur |
| Diamant Grit Grootte | 10 1 30 μ m | Langzamer snijden = fijnere korrel, hogere oppervlakteafwerking |
| Diamantconcentratie | 15-25% | Een hogere concentratie resulteert in sneller snijden en hogere kosten |
| Bond Type | Geëlektroleerd /Hars | Geëlektroleerd voor agressief snijden, hars voor een fijne afwerking |
| Parameter | Aanbevolen Range | Primaire impact | Afweging |
|---|---|---|---|
| Wire Speed | 10-25 m/s | Snijsnelheid, oppervlaktekwaliteit | Hogere snelheid → meer warmte |
| Feed Rate | 0,1-0,5 mm/min | Cyclus tijd, SSD diepte | Sneller voer → meer schade |
| Wire Tension | 20-60 N | Snijd rechtheid, TTV | Hogere spanning → draadslijtage |
| Koelvloeistofstroom | 6-10 l/min | Temperatuurregeling | Meer stroom → hogere kosten |
| Koelvloeistof Temp | 18-22°C | Thermische stabiliteit | Vereist koelmachine systeem |
Optimaliseer uw diamantdraad snijparameters voor de beste kwaliteit en bereken gedetailleerde cost-per-wafer afbraak voor siliciumcarbide wafer productie
Casestudies uit de praktijk die precisie, opbrengst en kostenefficiëntie aantonen.
De Duitse automotive Tier-1 leverancier is een van de grootste fabrikanten van SiC-gebaseerde voedingsmodules voor elektrische voertuigomvormers Dit bedrijf, dat jaarlijks meer dan 500.000 SiC MOSFET modules produceert, staat onder financiële stress door de overmatige grondstof afval van hun wafersnijactiviteiten Dit bedrijf beheert 3 productielijnen voor 6-inch 4H-SiC wafer verwerking voor 1200V en 1700V power devices.
Voordat dit project van start ging, zorgde het multidraadslurryzaagsysteem van de klant voor onaanvaardbare verliezen:
Na analyse van de snij-eisen van de klant, hebben we een DWS-6000 Diamantdraadzaag snijmachine met aangepaste functies.
| Metrisch | Voor | Na |
|---|---|---|
| Kerf Loss | 220μm | 143μm (↓35%) |
| Wafels per Ingot (25mm) | 38 wafels | 52 wafels (↑37%) |
| Materiaal Gebruik | 52% | 71% (↑19 punten) |
| Ondergrondse schade | 45-60μm | 15-25μm (↓58%) |
| Rand chipping tarief | 8% | 1.2% (↓85%) |
De klant is een van de top 3 fabrikanten van zonne-omvormers in China, met een jaarlijkse productiecapaciteit van meer dan 50GW. Om hun verticale integratie te versterken, zetten ze een captive SiC wafer fabricage fabriek Dit is een strategie gericht op supply chain beveiliging voor de SiC MOSFET's die worden gebruikt in hoogrenderende string omvormers De fabriek werkt op 8-inch 4H-SiC wafers bestemd voor 650V en 1200V apparaten gericht op zonne-energiesystemen op utiliteitsschaal.
De moeilijkheden waarmee de klant werd geconfronteerd, waren onder meer het opzetten van een greenfield SiC-wafelsnijoperatie met de volgende vereisten:
Onze aanbeveling is de EDW-8200 Eindeloos Diamantdraad Loop Snijsysteem. Het komt overeen met de specificaties van de gebruiker voor het nauwkeurig snijden van SiC-wafels.
| Metrisch | Resultaat behaald | Doel / Context |
|---|---|---|
| Kerf Loss | 0,35-0,40 mm | versus 0,45 mm doel |
| Minimale wafeldikte | 300μm bereikt | Overschreed het doel van 350 µm |
| Oppervlakte Ruwheid (Ra) | 0,22μm | Overschreed het doel van 0,3 µm |
| TTV | < 5μm | Over 200mm diameter |
| Opbrengstpercentage (eerste pas) | 96.8% | - |
Japanse halfgeleidergieterij in de GaN-on-SiC RF-apparaten voor 5G-basisstations Hun productlijn omvat HPA's, LNA's en geïntegreerde MMIC's voor sub-6GHz - en mmWave-banden De prestaties van de RF-apparaten zijn van cruciaal belang en vereisen daarom hoogwaardige SiC-substraten met minimale kristallografische defecten.
De voornaamste zorg van de klant was onder meer de ondergrondse schade die de kwaliteit van de epitaxiale groei van GaN aantastte:
Hiervoor hebben we de DWS-4100P Precisie Diamantdraadzaag volledig geconfigureerd met gespecialiseerde functies voor SSD-reductie.
| Metrisch | Voor | Na |
|---|---|---|
| Ondergrondse schade Diepte | 40-55μm | 8-12μm (↓78%) |
| Waferboog (4 inch) | >30μm | <8μm (↓73%) |
| Nauwkeurigheid van kristaloriëntatie | ±0,15° | ±0,05° (↑3x precisie) |
| RF Apparaat Faalpercentage | 4.2% | 1.1% (↓74%) |
| GaN Epi Defect Density | 5×105 cm−² | 8×104 cm−² (↓84%) |